產品介紹
VDS-2002
- FP-COMB 1500-1 Series
- FP-COMB 32
- FP-COMB 63/690-1
- FP-EFT 100M2
- FP-SURGE 100M2
- PCD 121
- PCD 126 A
- PCD 122
- DEC 5
- DEC 6
- DEC 7
Haefely
Coupling / Decoupling Networks (CDN)
Electrostatic Discharge (ESD)
Power Frequency Magnetic Fields
Pulse Magnetic Field Test Systems
Software
- Fully AC/DC DIP compliant
- SGH-8 AC/DC- MF
- SGH-ESD-Brush
SGH EMC Product
AC/DC - DIP
AC/DC - MF
ESD Brush
- TAF Calibration Lab
TAF Calibration Lab
TAF 3907
水冷機零件
BONN
RF Power Amplifiers
RF Amplifier Modules
EMI Preamplifiers
Directional Couplers (internal and external)
Waveguide-Coax Adapter
RF Power Attenuators
RF Power Terminations
各式CDU
Cooling
- R&S FSL
- AMETEK TESEQ NSG 437
- 音壓放大器
二手儀器專區
Rohde & Schwarz
TESEQ
Brüel & Kjær
- WP10M
- WP50
- WP400
- WP400-3
- WP400c
- WPF3
- WPF6
- WPF8
- WPF18
- WPF40
- WPF60
- WPF60S
- WPF90
- WPH60
- WPH1000
- WPH-DC
- 校正服務 (Calibration Services)
Wavecontrol
Field Probes
Calibrations
NOISEKEN -INS4040/4020水銀繼電器販賣
各式EMC ESD/CDN/LISN 維修
- KT-200SG
KAST
KT-200SG
- HD316
誠臻
電磁兼容
Schloeder GmbH
Band Reject Filter
Power Ampilifer
- CDN10 M2 16A 1000V
- CDN10 M3 32A 1000V
- CDN10 M3 125A 1000V
- CDN10 M4PE 32A 1000V
- CDN10 M5PE 32A 1000V
- CDN AF2
- CDN AF3
- CDN AF4
- CDN AF6
- CDN AF8
- CDN CAN-4
- CDN AF SUBD
- CDN AF19 SUBD
- CDN10 AF3
- CDN10 AF6
- CDN10 AF12 SUBD
- CDN10 AF17 SUBD
- CDN10 AF25 SUBD
- CDN ISN S1 BNC
- CDN S1 BNC 75
- CDN S1 N
- CDN S2 XLR3-1
- CDN S4 4xBNC
- CDN S4 XLR4
- CDN S4 DIN5-1
- CDN ISN S8 RJ45
- CDN S9 SUBD
- CDN S9 USB3.0
- CDN S15 VGA
- CDN S19 HDMI
- CDN S24 USB-C
- CDN S25 SUBD
- CDN T8 RJ45
- CDN T4 RJ45
- CDN T4 4A
- CDN T2 16A
Schwarzbeck
Coupling / Decoupling Networks
Todaisu
- TAF Calibration Lab
RF-Cable
High low Frequency cable
VDS-2002
符合 EN/IEC 61000-4-11:第3版(2020) 標準之試驗器(亦可進行 1994 年版 所規定之電壓變動試驗)。
與 EUT 之連接係由多功能插座及端子台共同配置。
可透過前面板輕鬆設定標準中規定之試驗參數。
亦可藉由 PC 軟體控制,進行不同於標準規範之使用者自訂試驗。
並可執行 DC 瞬斷試驗(DC 125 V,最大 16 A)。
詳細說明
| 項目 | 規格 | |
| 線數 | 單相 | |
| 試驗模式 | 瞬斷 AC/DC |
本體:同步:短路 |
| PC:同步:短路/開路,非同步:短路/開路 | ||
| 跌落/上衝 | 本體:同步 | |
| PC:同步/非同步 | ||
| 電壓變動 | 本體:非同步(僅可進行 2s-1s-2s 的規格測試) | |
| PC:非同步 | ||
| 輸入電壓範圍 | AC 90~264 V, 50/60 Hz, DC 0~125 V | |
| 輸出電壓範圍 | AC 0 V~輸入電壓+20 %,最大 AC290 V,DC 0V 或輸入電壓 | |
| 輸出VA | 4.224KVA(連續) | |
| 輸出電流能力 | AC | 輸入電壓的100%:16 A rms(連續) |
| 輸入電壓的80%:20 A rms(<5 S) | ||
| 輸入電壓的70%:23 A rms(<5 S) | ||
| 輸入電壓的40%:40 A rms(<5 S) | ||
| DC | 16A(連續) | |
| 最大輸出電流能力 | AC 100~120V:峰值 250A(10ms 以下) | |
| AC 220~240V:峰值 500A(10ms 以下) | ||
| 由負載引起的輸出電壓變動 | 輸入電壓 100% 時,0~16A rms 時變動小於 5% | |
| 輸入電壓 80% 時,0~20A rms 時變動小於 5% | ||
| 輸入電壓 70% 時,0~23A rms 時變動小於 7% | ||
| 輸入電壓 40% 時,0~40A rms 時變動小於 10% | ||
| 過衝/下衝(瞬斷時) | 小於電壓變化的 5%(100Ω 電阻負載時) | |
| 上升/下降時間(瞬斷時) | 1~5 µs(100Ω 電阻負載時) | |
| Normal voltage setting | 百分比設定 | 本體:100% |
| PC:(4%)~120% / 最小 10V | ||
| 電壓設定 | PC:10 V~290 V / 5 V 步進 | |
| 精度 | ±5 V(輸出 0 V~16 A) | |
| 跌落/上升等級 | 百分比設定 | 本體:0%(瞬斷)短路回路,設定:0/40/70/80/120%(5 步進) |
| PC:短路/開路,0%(瞬斷)中可選擇;短路/開路回路:0~120% | ||
| 電壓設定 | PC:短路/開路 0%(瞬斷)中可選擇;短路/開路回路:0~290 V(0~120%),5 步進 | |
| 精度 | ±5 V | |
| 重複次數 | 本體:1, 3, 5, 10, 30, 50, 100 或連續(8 步進) | |
| PC:1~1,000 或連續(1 次步進) | ||
| 間隔週期 | 周期設定 | 本體:1, 3, 5, 10, 30, 50, 100, 300, 500, 與 10s(10 步進) |
| PC:0.5~5,000.5 周期(0.5 周期步進) | ||
| 時間設定 | 短的持續時間設定 PC:同步:1~100 s(1 s 步進) 非同步:8.3 ms~100 s(0.1 ms 步進) | |
| 長的持續時間設定 PC:非同步:1 s~10 h(1 s 步進) | ||
| 跌落週期 | 周期設定 | 本體:0.5, 1, 5, 10, 12, 25, 30, 50, 250, 300 周期(10 步進) |
| PC:0.01~5,000 周期(0.01 周期步進) | ||
| 時間設定 | 短的持續時間設定 PC:同步:0.1 ms~100 s(0.1 ms 步進) 非同步:0.1 ms~100 s(0.1 ms 步進) | |
| 長的持續時間設定 PC:非同步:1 s~10 h(1 s 步進) | ||
| 跌落相位 (開始相位角) |
相位角度設定 | 本體:同步:0, 45, 90, 135, 180, 225, 270, 315(8 步進,45° 步進) |
| PC:同步:0~359°(1° 步進) | ||
| 時間設定 | PC:同步:0~19.9 ms for 50 Hz(0.1 ms 步進)0~16.6 ms for 60 Hz(0.1 ms 步進) | |
| 電壓變動試驗 | 時間設定 | PC:非同步:變更時間:0.1s~10s(0.1s 步進),變更輸入的 10%,最少需 0.1 秒 |
| 時間變更:0~10s(0.1 s 步進)間隔:0~100s(0.1s 步進)試驗等級:0~120% | ||
| 記憶容量 | 本體:5 次試驗 | |
| PC:10 步進(PC 控制情況下,測試序列可儲存 10 步) | ||
| 設備電壓 | AC 100~240 V ±10%,50/60 Hz,120 VA | |
| 介面 | 光纖接口(RS-232 互換及 USB) | |
| 尺寸 | (W)430 × (H)745 × (D)600 mm(不含突起部) | |
| 重量 | 約 150 kg |